氧化膜测厚仪

leeb252型氧化膜测厚仪，涂层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量；既可用于实验室，也可用于工程现场；
广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护*必备的仪器。
leeb252型氧化膜测厚仪符合以下标准：
GB/T4956-1985磁性方法；
GB/T4957-1985涡流方法；
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪；
JJG889-95《磁阻法测厚仪》；
JJG818-93《电涡流式测厚仪》。
leeb252型氧化膜测厚仪功能与特点
采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量：
磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)；
非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
leeb252型氧化膜测厚仪设有五个统计量：平均值、***大值（MAX）、***小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
具有存贮功能：可存贮500个测量值
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析
具有打印功能：可打印测量值、统计值、限界、直方图
具有电源欠压指示功能
leeb252型氧化膜测厚仪操作过程有蜂鸣声提示
具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式
leeb252型氧化膜测厚仪技术参数
测头类型：F|N
测量原理：磁感应|电涡流
测量范围：0-1250um|0-1250um0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力：0.1um
探头连接方式：一体化
leeb252型氧化膜测厚仪示值误差：F|N
一点校准(um)：±[3%H+1]
两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1]
一点校准(um)：±[3%H+1.5]
两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
leeb252型氧化膜测厚仪测量条件：F|N
***小曲率半径(mm)：凸1.5|凹9
基体***小面积的直径(mm)：ф7
***小临界厚度(mm)：0.5
***小曲率半径(mm)：凸3|凹10
基体***小面积的直径(mm)：ф5
***小临界厚度(mm)：0.3
温湿度：0~40℃|20%RH～90%RH
统计功能：平均值、***大值（MAX）、***小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置：有
存储能力：500个测量值
打印/连接计算机：可选配打印机/不能连接电脑
关机方式：手动和自动
电源：二节AAA型（7号）1.5V电池
外形尺寸：110×50×23mm
重量：100g
leeb252型氧化膜测厚仪标准配置
leeb252主机；
探头F和N；
铁基体或铝基体；
标准片一套；
仪器保护套；
使用说明书；
合格证书；
包装箱。